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探針臺主要為電性測量而設計。針尖鍍金的探針可以連接在熱臺腔室內部的電極上，針座可以移動，保證針尖可以接觸到熱臺上的任何一個區域。探針壓在樣品上的力度可以通過彈簧調整。
兩種型號的探針臺可以選擇。LTS420-P主要為半導體器件的電性測量而設計。選擇冷卻系統，溫度可以低到-196℃。
參數：
溫度范圍：-196到420℃ (-196℃需選擇專用冷卻系統)
全程溫度精度/穩定性：0.1℃/<0.1℃
光孔直徑：φ2.4mm
樣品區域面積： 58x43mm
4個樣品探針，2個LEMO接頭（BNC接頭可以提供）
加熱速率： 0.1-30℃/min
超薄熱臺窗口：0.17mm
臺體尺寸- 169 x 110 x 25.8 mm
最小物鏡/聚光鏡工作距離： 8.2/12.5mm
氣密樣品腔室,可充入保護性氣體
滑動上蓋易于樣品導入
獨立溫度控制
