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探針臺主要為電性測量而設計。針尖鍍金的探針可以連接在熱臺腔室內部的電極上，針座可以移動，保證針尖可以接觸到熱臺上的任何一個區域。探針壓在樣品上的力度可以通過彈簧調整。
兩種型號的探針臺可以選擇。LTS120-P主要為半導體器件的電性測量而設計。
參數：
溫度范圍：-40℃到120℃
溫度精度/穩定性：0.1℃/<0.1℃
光孔直徑： 2.5mm
樣品區域面積： 40 mm x 40 mm
4個樣品探針，2個LEMO接頭（BNC接頭可以提供）
加熱速率：0.1-50℃/min
超薄熱臺窗口：0.17mm
最小物鏡/聚光鏡工作距離： 8.2/12.5mm
氣密樣品腔室,可充入保護性氣體
滑動上蓋易于樣品導入
獨立溫度控制
